電子デバイスの信頼性向上・事例集　サイエンスフォーラム　発行

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電子デバイスの信頼性向上・事例集　サイエンスフォーラム　発行

ご覧頂きありがとうございます。

以下の書籍となります。

・電子デバイスの信頼性向上・事例集　
　監修　塩見　弘
　編集委員　岡本英男
　　　　　　高橋洽太郎
　昭和61年11月25日　第1版第1刷
　サイエンスフォーラム発行
　Science Forum
　定価　53,
　全333頁
　外箱付き

・目次
　第1部　電子デバイスの故障モードと解析
　第2部　故障解析の成果の生かし方
　第3部　解析装置の効果的な使い方
　第4部　改善確認のための試験方法
　第5部　信頼性向上のための今後の留意点

・約30年前の書籍ですが、半導体デバイスの故障解析の基礎が丁寧に記載されています。

・半導体デバイスのプロセス設計・不良解析を学習・研究される方や、半導体エンジニア向けかと存じます。

・これから、beyond 2nmのプロジェクトが始まるとのこと。本書が一助になると幸いです。

・書き込みはございません。見落としがある可能性がございます点、ご了承下さい。

・本の角にはヨレ等はございません。画像にてご確認下さい。

・個人名が書かれている箇所が複数あります。発送前に、紙を貼って修正させて頂きます。

以上、ご活用頂ける方、ご検討のほど、宜しくお願いいたします。

商品の情報

カテゴリー	本・音楽・ゲーム > 本 > 参考書
商品の色を	ホワイト系
商品の状態	目立った傷や汚れなし

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